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※ 정보출처 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr, T.1670-0925)

반도체 파라미터 분석기 Semiconductor Parameter Analyzer

표준분류
전압/전류/전력측정시험장비
보유기관명
국립부경대학교
시설장비아이디
20260907000000305697
시설장비등록번호
NFEC-2026-09-318254
이용방법
모두 가능
활용범위
공동활용허용가능
활용대상
기관외부활용
장비문의처
051-629-7810

장비정보

제작사명 / 모델명 Keithley Instruments / 2636B
설치장소
부산광역시 남구 신선로 365 첨단실험실습관 1층 측정실  (층: 1층 / 호실: -) 지도보기
사용용도 교육
장비설명 소자의 설계 결과가 실제 실리콘 웨이퍼나 패키지 칩에서 똑같이 구현되었는지 검증하는 디바이스 특성 평가(Characterization) 및 설계 검증(Design Verification)의 핵심 장비로 사용됨. 칩의 소형화와 저전력화를 달성하기 위해 이 장비의 0.1fA 초미세 전류 분해능과 듀얼 채널 제어 능력이 적극적으로 활용
구성 및 성능 출력 전압 범위
최대 200V, 최소 100nV 분해능
출력 전류 범위
최대 1.5A DC, 10A 펄스 / 최소 0.1fA 분해능
채널 구성
듀얼 채널 (각 채널 30W, 총 60W)
해상도
6½ 디지트
측정 속도
버퍼 기준 초당 최대 20,000 판독값
펄스 특성
<100µs 펄스 폭, 안정도 0.1%
통신 인터페이스
USB 2.0, LAN, GPIB
사용 예시 -